INS-S100
Impulse Noise Simulator สำหรับทดสอบความทนทานต่อสัญญาณรบกวนของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ รองรับการจ่ายพัลส์ตั้งแต่ 50V เหมาะสำหรับการประเมินแผงวงจรและคอมโพเนนต์แรงดันต่ำ ช่วยตรวจสอบและจำลองปัญหาที่อาจเกิดขึ้นจริงในตลาด
ราคาต่อหน่วย (รวมภาษีมูลค่าเพิ่ม)
ของแท้ 100%
Test noise resistance during product development!
เครื่องจำลองสัญญาณรบกวนแบบพัลส์ (Impulse Noise Simulator) รุ่น INS-S100 ออกแบบมาเพื่อทดสอบความทนทานต่อสัญญาณรบกวนของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ โดยจำลองสัญญาณรบกวนความถี่สูงที่เกิดจากการสวิตช์อุปกรณ์หรือการอาร์คของมอเตอร์ไฟฟ้า
INS-S100 สามารถจ่ายพัลส์ได้ตั้งแต่ 50V เหมาะสำหรับการประเมิน Noise Resistance ของแผงวงจรและคอมโพเนนต์แรงดันต่ำ ทั้งในช่วงพัฒนาผลิตภัณฑ์และในการวิเคราะห์ปัญหาที่เกิดขึ้นจริงในตลาด
ขอราคาหรือคุยกับผู้เชี่ยวชาญโดยตรง
| Parameter | INS-S100 | INS-S220 | INS-S420 |
|---|---|---|---|
| Pulse output voltage | 0.05 kV ～ 1.00 kV | 0.50 kV ～ 2.00 kV | 0.50 kV ～ 4.00 kV |
| Pulse width | 50 ns ～ 1000 ns | 100 ns ～ 1000 ns (～0.99 kV) 50 ns ～ 1000 ns (1.00 kV～) |
50 ns ～ 1000 ns |
| Repetition cycle | 10 ms ～ 999 ms | 1 ms ～ 999 ms (～0.99 kV) 10 ms ～ 999 ms (1.00 kV～) |
10 ms ～ 999 ms |
| Rise time | < 3 ns (เมื่อโหลดด้วย 50Ω) | ||
| Decoupling network (CDN) | none | equipped | equipped |
การทดสอบ Noise Resistance มีเป้าหมายเพื่อยกระดับคุณภาพผลิตภัณฑ์และความปลอดภัย โดยช่วยยืนยันและจำลองความผิดปกติที่เกิดขึ้นจริงในตลาดได้
สามารถทดสอบโดยการหนีบ Coupling Adapter เข้ากับสายสัญญาณเพื่อยิงแรงดัน หรือใช้ Radiation Probe ระบุตำแหน่งบนแผงวงจรที่มีปัญหาจากสนามแม่เหล็กใกล้เคียง
Narrow pulse (50–100 ns) แม้มีพลังงานต่ำแต่สามารถรบกวนวงจรได้อย่างรุนแรง เนื่องจากการเปลี่ยนขึ้น/ลงที่รวดเร็วและการเหนี่ยวนำสนามแม่เหล็ก
Wide pulse (800–1000 ns) มีพลังงานสูงกว่า ทำให้เกิดการแกว่งแรงดันชัดเจนต่อวงจร Rise time ของ INS-S100 เร็วกว่ามาตรฐาน IEC61000-4-4 (Fast Transient/Burst) และมีสเปกตรัมความถี่สูงถึง 1 GHz จึงสามารถทะลุและส่ง
| ขนาดสินค้า Product Size | : | x x cm |
| ขนาดบรรจุภัณฑ์ Package Size | : | x x cm |
Shop Discount
Shop Discount
